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SPM-9600
Microscópio de Força Atômica
Medições nanometricas em 3D e propriedades dos materiais
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O microscópio de força atômica (AFM) oferece ampliação e observações em 3D de
superfícies de amostras com o auxílio de uma pequena ponta de prova. É possível obter medições
em superfícies planas de sólidos e filmes em ambientes ar atmosférico ou líquido na
ordem de nanometros. A ponta de prova fornece também as propriedades elétricas da
amostra, assim como a imagem da estrutura de separação de camadas e a dureza
da amostra.
. observações ampliadas em ar atmosférico;
. observação direta em não-condutores;
. medições confiáveis;
. localização física das medições na amostra.
O SPM pode ser atualizado para a versão WET-SPM que permite obter medições em ambientes
com temperatura e umidade controladas.
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Nano-litografia de caracter chinês (waza = technique) por oxidação anódica
O caracter em nanoescala foi desenhado com camadas de oxidação localizada com aplicação
de tensão elétrica (voltagem) entre o semicondutor e a superfície do metal, sendo
a ponta de prova do SPM como o cátodo. O método de oxidação anódica pode ser
aplicado em nano-litografia e em avaliação de propriedades de material. O WET-SPM
fornece mais um potencial desta técnica: o controle de umidade do ambiente.
(a imagem é cortesia do Institute for Solid State Physics - University of Tokyo)
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Observação de sulcos de nano-tubos de carbono
Observações desse tipo com pontas de prova convencionais nem sempre são possíveis.
Mas, com o desenvolvimento da técnica e também de pontas de prova específicas, se
torna possível a observação de sulcos.
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Observações de diagrama de elasticidade da estrutura de filmes de polímeros
A estrutura de superfícies de polietileno foi observada através da medição da visco-elasticidade.
A cristalização do polímero é aparente. As regiões mais rígidas onde a cristalização
está em evidência aparece com cores mais claras. Esta estrutura pode ser visualizada
sem prévio tratamento, ou preparação da amostra.
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