IG-1000
Analisador de Nanopartículas

IG-1000

O analisador de nanopartículas IG-1000 permite determinação de distribuição de tamanho de partículas em uma faixa de tamanho de 0,5 a 200 nm, com excelente repetibilidade. Apesar de utilizar método de difração/espalhamento de laser, o IG-1000 utiliza princípio de determinação distinto da linha SALD, sendo o primeiro sistema no mundo a usar o método IG (Induced Grating, ou sistema de grade de difração induzida), desenvolvido com exclusividade pela Shimadzu. O método IG é revolucionário por usar sistema de dieletroforese para formação de uma grade de difração a partir de nanopartículas em solução, sendo o diâmetro de partícula determinado em função do tempo de difusão da grade de difração formada. A principal vantagem do método IG, ao contrário do espalhamento dinâmico de luz (DLS - Dynamic Light Scattering), método base dos analisadores disponíveis no mercado, é sua capacidade de manter uma excelente relação sinal/ruído (S/R), mesmo para uma pequena quantidade de amostra ou de tamanho reduzido. A utilização de medição de nanopartículas tem aplicação em diferentes campos tecnológicos e distintas aplicações, tais como materiais eletrônicos, metais, materiais de máquinas, catalisadores, cosméticos, farmacêutico e meio-ambiente.

 

IG-1000

Características

  • Primeiro sistema no mundo a utilizar método IG. O tamanho da partícula é determinado baseado no tempo necessário para difusão da grade de difração formada pelas nanopartículas, utilizando sistema de dieletroforese.

 

  • Medição de nanopartículas com excelente repetibilidade. Utiliza exclusivo princípio de medição para análise de partículas de ordem de grandeza menores que 10 nm, com excelente repetibilidade.

 

  • Dedicado a medição de nanopartículas na faixa de 0,5 a 200 nm, dispersas em líquidos.

 

  • Requer pequena quantidade de amostra. Quantidade mínima requerida de amostra para medição de 250 uL. Permite recuperação de amostras após análise.

 

  • Realização de ciclo de medição em apenas 30 s. Análise rápida com excelente repetibilidade, comparada as medições realizadas em equipamentos que utilizam sistema DLS, que requerem tempos de análise maiores que 1min.

 

  • Princípio de medição não é afetado por contaminantes misturados à amostra. No caso de sistemas DLS, o espalhamento de luz gerado em cada partícula é proporcional ao diâmetro da partícula. Consequentemente, a presença de outras partículas (contaminação) podem gerar erros de medição.

Especificações

Princípio de medição Método IG (Induced Grating)
Faixa de análise 0,5 a 200 nm
Tempo de medição 30 s
Quantidade de amostra 250 a 300 uL
Fonte de radiação laser semicondutor (785 nm, 3 mW)
Unidade de detecção detector tipo fotodiodo
Compartimento de amostra Cela com eletrodos
Método de comunicação serial RS-232C (25 pinos)
Ambiente operacional

temperatura: 15 a 35ºC

umidade: 20 a 80% (sem condensação)

Energia elétrica 100 VAC (+/-10), 50 ou 60 Hz , 2 A
Dimensões L600 x A400 x P200 mm, 15 Kg

Software

Modelo WingIG
Sistema operacional Windows XP / Vista
Funções de análise
Análise de distribuição de tamanho de partícula sim
Recálculo de distribuição de tamanho de partícula sim
Dados de distribuição de tamanho de partícula sim
os de intensidade de luz sim
Função de diagnóstico sim
Funções copiar/colar

dados de distribuição de tamanho de partículas: sim

dados de intensidade de luz: sim