Produtos > Microscópios > MEV

Série CS câmara para grandes amostras, detectores EDS, WDS, EBSD, análise forense

Apollo 300 FEG grande estabilidade, maior faixa de ampliação

X500 dedicado à análises EBSD em altas temperaturas

Sistemas de Microanálises microanálises de raios-X com Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) e Microscopio Eletrônico de Transmissão (MET)