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Microanalisadores de sonda eletrônica (EPMA - Electron Probe Microanalyzers) são capazes
de determinar a composição elementar de micro-áreas além da distribuição das concentrações
elementares em superfícies de amostras por irradiação com um feixe de elétrons altamente
concentrado e em seguida, medir a intensidade do espectro de raios-X que é gerado.
Uma característica dos sistemas EPMA é que o comprimento de onda X (WDS) é o utilizado
pelos sistemas de EPMA oferecendo maior resolução do que os espectrômetros de energia
dispersiva (EDS).
Portanto, em comparação com microscópios eletrônicos de varredura (MEV) equipados
com detectores de EDS, o sistema EPMA permite uma análise com maior precisão e maior
sensibilidade. Os modelos EPMA-1720/1720H, oferecendo os seguintes recursos.
. O cátodo CeB6 pode ser anexado como fonte de elétrons, que fornece um feixe estreito
e permite obter uma imagem da distribuição elementar com maior resolução espacial
do que usar um filamento de tungstênio (apenas para o EPMA-1720H);
. Ângulo de Take-off de 52,5° para análises em raios X, aumentando dessa forma a sensibilidade
das análises;
. Movimentos rápidos e estáveis permitem precisamente especificando pontos ou regiões
para análise;
. Várias funções automáticas e funções de bloqueio permitem fácil ajuste do feixe
de elétrons;
. Controle e software de análise utiliza uma vasta experiência analítica Shimadzu
oferecendo um ambiente operacional, com excelente visibilidade para todas as operações
de aquisição de dados para análise de dados e geração de relatórios;
. Modo simplificado permite que mesmo usuários de primeira hora de executar uma ampla
gama de operações, a partir da observação SEM para análise qualitativa e análise de
mapeamento;
. Programa de gerenciamento de dados que permite facilmente a manipulação dos dados
em bloco.
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